


| 货号 | 包装规格 | 操作 |
|---|---|---|
| 946753-50G | 50 g | |
| 946753-250G | 250 g |
Bis(t-butylamino)silane (BTBAS) is a high-purity silicon precursor widely used in advanced semiconductor and materials applications for chemical vapor deposition (CVD) processes.BTBAS is favored for its ability to deposit uniform, high-quality films at relatively lower temperatures (around 500–750 °C) compared to some other silicon precursors, reducing contamination from carbon and chlorine.It enables controlled hydrolysis and polymerization during deposition, important for high-quality barrier or dielectric layer formation.
双(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)主要用于低压化学气相沉积(LPCVD)以存款氮化硅(Si 3 N4)薄膜作为MOS晶体管和其它半导体器件中的侧壁隔离层。这种工艺在相对较低的温度(~600 °C)下进行,BTBAS的高纯度和高挥发性可提供均匀的薄膜,良好的阶梯覆盖率和低颗粒污染,提高了半导体工厂的生产能力和产量。例如:Bis(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)可实现均匀、超薄含硅薄膜的可控生长,这在微电子和纳米级器件制造中至关重要。氮化硅(SiNx)薄膜可通过使用BTBAS结合N等离子体的ALD沉积。这些薄膜在以下方面发挥着关键作用:先进晶体管中的栅极间隔层,确保器件的可靠性和性能。(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)被用作有机和光电子器件如OLED、光伏电池和场效应晶体管(FET)的湿气渗透阻挡层,其稳定性和寿命显著提高,也可用于通过低温等离子体生长高质量的SiO2薄膜。在一个工艺中,使用CO2和Bis在90 °C下成功地沉积了SiO2薄膜,该工艺使用的氧化剂与对湿气和氧敏感的材料相容。(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)作为前驱体,除氮化硅外,BTBAS还可用于沉积氧化硅薄膜,这些薄膜对逻辑、存储器(DRAM、NAND、3D NAND)、传感器(MEMS、光电子)等高科技电子制造业。其化学性质可控制薄膜生长,碳和氯残留量低,提高器件可靠性。我们的Bis(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS),≥99.99%痕量金属(以痕量金属计)(99.99%-Si)是一种高纯度的硅前驱体,专门为先进的半导体制造应用而配制。其高纯度确保了最小的污染,这对于在微电子学中获得无缺陷的薄膜是关键的。
我们的BTBAS提供:高纯度(≥99.99% Si),适用于关键的半导体级应用。在CVD/LPCVD系统中实现一致且高效的输送。能够在较低的温度下沉积氮化硅和氧化硅薄膜。通过优化的工艺,减少颗粒污染并延长设备正常运行时间。
手套箱下无金属接触和手柄
| 英文名称 | Bis(t-butylamino)silane, BTBAS |
| CAS 号 | 186598-40-3 |
| 线性分子式 | (NH(C4H9)2SiH2) |
| UNSPSC | 12352103 |
| 含量测定 | ≥98%(GC); ≥99.99%痕量金属(基于GC) |
| 形态 | 液体 |
| 杂质 | ≤100 ppm痕量金属基准 |
| 溶解性 | 可溶性(在水中不混溶或难以混合) |
| 密度 | 在20 ℃下为0.816 g/mL |
| 阴离子痕迹 | 氯化物(Cl-): |
| 阳离子痕量 | (32 种元素) |
| 应用 | (半导体与工业) |
| 质量等级 | 200 |
| 包装规格(货号 946753-50G) | — |
| 包装规格(货号 946753-250G) | — |