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Sigma-Aldrich Bis(t-butylamino)silane, BTBAS,≥99.99%痕量金属基准

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Sigma-Aldrich Bis(t-butylamino)silane, BTBAS,≥99.99%痕量金属基准

Sigma-Aldrich Bis(t-butylamino)silane, BTBAS,≥99.99% trace metals basis
SIGMA-ALDRICH授权代理沉积前驱体
CAS 号 186598-40-3品牌 Sigma-Aldrich类目 实验室试剂 / 沉积前驱体更新日期 2026-10-26

规格与货号

货号包装规格操作
946753-50G50 g
946753-250G250 g

产品概述

Bis(t-butylamino)silane (BTBAS) is a high-purity silicon precursor widely used in advanced semiconductor and materials applications for chemical vapor deposition (CVD) processes.BTBAS is favored for its ability to deposit uniform, high-quality films at relatively lower temperatures (around 500–750 °C) compared to some other silicon precursors, reducing contamination from carbon and chlorine.It enables controlled hydrolysis and polymerization during deposition, important for high-quality barrier or dielectric layer formation.

应用领域

双(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)主要用于低压化学气相沉积(LPCVD)以存款氮化硅(Si 3 N4)薄膜作为MOS晶体管和其它半导体器件中的侧壁隔离层。这种工艺在相对较低的温度(~600 °C)下进行,BTBAS的高纯度和高挥发性可提供均匀的薄膜,良好的阶梯覆盖率和低颗粒污染,提高了半导体工厂的生产能力和产量。例如:Bis(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)可实现均匀、超薄含硅薄膜的可控生长,这在微电子和纳米级器件制造中至关重要。氮化硅(SiNx)薄膜可通过使用BTBAS结合N等离子体的ALD沉积。这些薄膜在以下方面发挥着关键作用:先进晶体管中的栅极间隔层,确保器件的可靠性和性能。(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)被用作有机和光电子器件如OLED、光伏电池和场效应晶体管(FET)的湿气渗透阻挡层,其稳定性和寿命显著提高,也可用于通过低温等离子体生长高质量的SiO2薄膜。在一个工艺中,使用CO2和Bis在90 °C下成功地沉积了SiO2薄膜,该工艺使用的氧化剂与对湿气和氧敏感的材料相容。(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS)作为前驱体,除氮化硅外,BTBAS还可用于沉积氧化硅薄膜,这些薄膜对逻辑、存储器(DRAM、NAND、3D NAND)、传感器(MEMS、光电子)等高科技电子制造业。其化学性质可控制薄膜生长,碳和氯残留量低,提高器件可靠性。我们的Bis(叔丁基氨基)硅烷(BTBAS),≥99.99%痕量金属(以痕量金属计)(99.99%-Si)是一种高纯度的硅前驱体,专门为先进的半导体制造应用而配制。其高纯度确保了最小的污染,这对于在微电子学中获得无缺陷的薄膜是关键的。

产品特点

我们的BTBAS提供:高纯度(≥99.99% Si),适用于关键的半导体级应用。在CVD/LPCVD系统中实现一致且高效的输送。能够在较低的温度下沉积氮化硅和氧化硅薄膜。通过优化的工艺,减少颗粒污染并延长设备正常运行时间。

其他说明

手套箱下无金属接触和手柄

技术规格

英文名称Bis(t-butylamino)silane, BTBAS
CAS 号186598-40-3
线性分子式(NH(C4H9)2SiH2)
UNSPSC12352103
含量测定≥98%(GC); ≥99.99%痕量金属(基于GC)
形态液体
杂质≤100 ppm痕量金属基准
溶解性可溶性(在水中不混溶或难以混合)
密度在20 ℃下为0.816 g/mL
阴离子痕迹氯化物(Cl-):
阳离子痕量(32 种元素)
应用(半导体与工业)
质量等级200
包装规格(货号 946753-50G)—
包装规格(货号 946753-250G)—

常见问题

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