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梅特勒 超越系列XS分析天平

产品简介:特点1、采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果2、全自动校准技术(FACT),温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准,以及全自动线性校准技…

产品详情

特点
  • 采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果
  • 全自动校准技术(FACT),温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准,以及全自动线性校准技术
  • 变量程专利设计(DeltaRang)和双量程(DualRange)设计
  • 触摸屏技术(TouchScreen)网格称盘(SmartGrid),获得快速、准确称量结果
  • 易巧称量组件(ErgoClips),满足使用不同去皮容器的称量需求
  • 可移动的显示控制终端,方便使用
  • 完全可拆卸的防风罩设计,实现快速清洁
  • 内置RS232C通讯接口和一个可用于RS232C, LocalCAN, BTS, PS/2,Ethement和MiniMettler通用接口选件插糟
  • 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
  • 具有基础称量、统计称量、配方称量、密度测定等内置应用程序E-Loader ll软件、实现天平软件的即时更新
技术参数
型号
XS105DU
双量程
XS205DU
双量程
XS64
XS104
XS204
XS204DR
变量程
最大称量值
41g/120g
81g/220g
61g
120g
220g
81g/220g
可读数
0.01mg/0.1mg
0.01mg/0.1mg
0.1mg
0.1mg
0.1mg
0.1mg/1mg
重复性
加载处
0.1mg(100g)
0.1mg(200g)
0.1mg(60g)
0.1mg(100g)
0.1mg(200g)
0.7mg(200g)
低加载
0.05mg(10g)
0.05mg(10g)
0.07mg(10g)
0.07mg(10g)
0.07mg(10g)
0.5mg(10g)
精细量程(加载处)
0.0035mg(40g)
0.04 mg(80g)
-
-
-
0.15mg(200g)
低加载 精细量程
0.02mg(10g)
0.02mg(10g)
-
-
-
0.1mg(10g)
线性误差
0.2mg
0.2mg
0.2mg
0.2mg
0.2mg
0.5mg
四角误差(加载处)
0.3mg(50g)
0.3mg(100g)
0.15mg(20g)
0.3mg(50g)
0.3mg(100mg)
0.3mg(100g)
灵敏度偏移
8×10-6Rnt
4×10-6Rnt
1.5×10-5Rnt
1×10-5Rnt
5×10-5Rnt
5×10-5Rnt
灵敏度温度漂移
1.5×10-6/℃ Rnt
1.5×10-6/℃ Rnt
1.5×10-6/℃ Rnt
1.5×10-6/℃Rnt
1.5×10-6/℃ Rnt
1.5×10-6/℃ Rnt
灵敏度稳定性
2×10-6/a Rnt
2×10-6/a Rnt
2×10-6/a Rnt
2×10-6/a Rnt
2×10-6/a Rnt
2×10-6/a Rnt
典型稳定时间
1.5s/4s
1.5s/4s
1.5s
1.5s
1.5s
1.5s/3.5s
接口更新速率
23/s
23/s
23/s
23/s
23/s
23/s
防风罩有效高度(mm)
235
秤盘尺寸(mm)
78×73
天平外形尺寸(mm)
263×453×322

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